Просвечивающий микроскоп ПЭМ-200

Просвечивающий микроскоп ПЭМ-200
Наличие:
Уточнить у менеджера
Цена:
по запросу

Просвечивающий микроскоп ПЭМ-200 предназначен для исследования микроструктуры и фазового состава объектов.

Основные функции микроскопа

  • наблюдение и фотографирование изображений объектов в широком диапазоне увеличений
  • исследование объектов в режимах микро-дифракции, малоугловой дифракции, дифракции высокого разрешения
  • исследование объектов при их наклоне и вращении
  • режим высокого контраста для медико-биологических объектов
  • автоматизированное компьютерное управление
  • компьютерный анализ изображений объектов по специальным программам
  • элементный анализ исследуемых объектов
Технические характеристики

Параметры

Тип полюсного наконечника

 

Высокого разрешения

Большого наклона

Высокого контраста

Разрешение, нм:

 

 

 

по кристаллической решетке

0,14

0,204

0,34

по точкам

0,35

0,37

0,4

Диапазон электронно-оптических увеличений

50x - 1 300 000x
(31 ступень)

50x - 1 000 000x
(31 ступень)

50 - 850 000x
(31 ступень)

Угол наклона объекта гониометром, град

±15

±60

±15

Длина дифракционной камеры:

 

 

 

микро дифракция, мм

80 - 3 500
(11 ступеней)

100 - 5 000
(11 ступеней)

115 - 5 800
(11 ступеней)

малоугловая дифракция, м

10 - 200
(10 ступеней)

10 - 200
(10 ступеней)

10 - 200
(10 ступеней)

дифракция высокого разрешения, мм

410

410

410

Параметры объективной линзы:

 

 

 

Ссф, мм

1,82

2,28

2,75

Схр, мм

1,9

2,43

2,9

F, мм

2,4

3,1

3,7

Ускоряющее напряжение

25-125 кВ, шаг регулировки 0,05; 0,1; 1,0; 5,0 10,0; 25,0 кВ нестабильность 2 10-6 1/мин, вобблер, автоматическая компенсация токов линз и токов отклоняющих систем при изменении ускоряющего напряжения.

Конденсорный блок

Две линзы; десять ступеней регулировки диаметра электронного пучка на объекте в диапазоне от 5 мкм до 0,1 мкм; программное управление отклоняющей системой наклона и перемещения электронного пучка на объекте; независимая юстировка режимов светлого и темного поля; быстрый переход из одного режима в другой; запоминание шести положений наклона электронного пучка; держатель c тремя сменными диафрагмами; угол наклона электронного пучка на объекте ±4o; вобблер отклоняющей системы и второй конденсорной линзы.

Объективная линза

Эвцентрический гониометр с боковым вводом объекта, наклон объекта от электропривода, в держатель устанавливаются два объекта, автоматическая система шлюзования камеры объектов, три сменных полюсных наконечника: высокого разрешения, большого наклона, высокого контраста; восьмиполюсный электромагнитный стигматор с коррекцией смещения изображения при стигмировании, противозагрязняющая защита с жидким азотом, держатель с тремя сменными апертурными диафрагмами, вобблеры для юстировки магнитного центра и фокусировки изображения, фокусировка изображения с известным шагом с индикацией на дисплее компьютера, цифровая индикация положения объекта на дисплее компьютера с запоминанием координат по Х и У

Проекционная система

Четыре линзы, при изменении увеличений в диапазоне от 2000 до 500 000 крат фокусировка изображения автоматически сохраняется, поворот изображения и дифракционной картины при изменении увеличения или длины камеры отсутствует, держатель с тремя сменными селекторными диафрагмами.

Камера наблюдений

Окно для наблюдения изображения 220 280 мм, дополнительный экран для фокусировки Ж25 мм, десятикратный бинокуляр.

Система фоторегистрации

Вакуумная камера с возможностью фоторегистрации на плоскую фотопленку размером 90 65 мм (24 шт.). Автоматический фотоэкспонометр. На фото-пластине индицируется номер эксперимента и увеличение. Более подробная информация об условиях эксперимента хранится в базе данных компьютера.

Управление прибором

Микроскоп управляется от промышленного компьютера типа ADVANTECH. Программное обеспечение в операционной среде WINDOWS. Управление от манипулятора типа "Мышь". В память компьютера занесены методы юстировки, работа на приборе, технические характеристики и другая необходимая информация. Программное обеспечение в операционной среде WINDOWS позволяет не только управлять микроскопом, но на этом же компьютере производить анализ химического состава объектов при работе с энергодисперсионным спектрометром и анализ изображения объектов по специальным программам при работе с CCD-камерой.

Вакуумная система

Два механических пластинчато-роторных насоса для создания предварительного разрежения, один магниторазрядный насос для откачки пушки, конденсорного блока, объектива и проекционного блока, один диффузионный насос для откачки камеры наблюдений и фотокамеры.

Требования к помещению

Площадь, кв. м.

минимум 12

Высота потолка, м.

минимум 2,65

Входная дверь

 

ширина, м.

минимум 0,9

высота, м.

минимум 1,8

Вода

 

расход, л/мин.

5

давление, мПа

0,2-0,4

температура, oС

15±5

кран 1/2", шт.

1

слив

3 шланга

Электропитание

 

3-х фазная сеть переменного тока с фазным напряжением

220±22 В

частота, Гц

50±1

мощность, кВА

не менее 5,5

Заземляющий контур с сопротивлением

не более 4 Ом.

Вибрации пола не более 0,2 мм/сек в диапазоне

от 5 до 50 Гц,

Уровень электромагнитных полей

не более 0,2 мкТл.

Общая масса, кг

1700 кг.

Дополнительное оборудование

Электронный микроскоп ПЭМ-200 может быть оснащен (по отдельному договору) следующими дополнительными устройствами:

  • системой вывода и анализа изображения (САИ) с боковым и нижним выводом изображения при помощи CCD-камеры;
  • системой рентгеновского анализа (ЭДС) с полупроводниковым Si (Li) детектором;
  • комплектом дифракционных приставок (КДП) для исследования объектов в режиме дифракции высокого разрешения (длина камеры 410 мм), в том числе с нагревом объекта до 8000 oС и охлаждением до минус 1200oС;
  • держателем объектов с двойным наклоном (ДО-01), угол наклона объектов в держателе ±45o;
  • автономной системой водяного охлаждения (АСО), поддерживающей постоянную температуру охлаждающей воды в диапазоне 16 ± 30 oС с точностью ± 10 °С;
  • холодопроизводительность системы не менее 2,5 кBт.

Похожия продукция

График доставки